產品詳情
Radiant的精密PNDS納米位移測試系統(tǒng)是一種高性價比、緊湊的桌上型位移傳感器，能夠測量壓電薄膜的表面位移和MEMs的傳動位移。PNDS是一種非常靈敏的原子力顯微鏡結構，它是測量薄膜性能的高性價比解決方案。它與Radiant的Vision測試軟件*兼容。PNDS提供的測量能力為亞微米電極尺寸，其垂直位移測試解析度優(yōu)于埃級別。
Radiant的Precision NanoDisplacement精密PNDS納米位移測試系統(tǒng)是一種改進的原子力顯微鏡（AFM逆向壓電d33系數測量系統(tǒng)），用于捕獲壓電或者鐵電電容器的壓電蝴蝶曲線。它通過使用輕型杠桿來實現，其中固定激光器將光束從與樣本表面接觸的薄懸臂梁上反射回來。反射光束擊中一個四格光電傳感器，可以檢測激光光斑的垂直和側向位置。對于埃級別的位移，該點的位置由電壓激勵之后產生壓電效應。對于微米級位移，激光點對樣品所在的壓電卡盤長度的影響會產生壓電響應。PNDS向您的Radiant鐵電測試主機輸出一個信號，其中包含位移信息。該測試儀在測試電滯回線的同時采集了位移信號，以生成壓電位移圖。
PNDS包含了AFM掃描所需的一切：舞臺，控制電子設備，探針，手冊和視頻顯微鏡。可以與Radiant精密測試系統(tǒng)聯系并配有Radiant*壓電測試軟件。PNDS提供了亞微米“點"尺寸的測量。 PNDS對于納米尺寸大小的樣品測試具有埃級別的分辨率。進的壓電測試軟件可以在自動控制下獲取多個環(huán)路，從測量中消除垂直卡盤漂移，平均環(huán)路并平滑結果。
精密納米位移測試系統(tǒng)測試功能：
大信號位移vs電滯回線
小信號位移vs電容
剩余位移
壓電疲勞與老化
了解更多關于納米測試方案：4008803660
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